日本画像学会(top)]  >>  [Imaging Today]  >>  第20回フリートーキング

第20回 フリートーキング“Imaging Today”
『材料分析技術』
 日本画像学会編集委員会では学会誌に毎号Imaging Todayを特集しております。会員の皆様にテーマ内容をより理解を深めていただくことを目的として、年2テーマを選び4月と10 月に「フリートーキング “Imaging Today”」を企画しております。Imaging Todayの執筆者の方に講演をしていただき、その後に質疑応答の時間を充分にとることにより、気軽な雰囲気で知識を深めていただくことを期待しております。また、フリートーキング終了後には情報交換会を予定しております。講演者および会員相互の交流の場として活用いただければ幸いです。

 第20回 フリートーキングの内容は表題のテーマを予定しております。講演は、本学会誌通巻193号のImaging Today執筆者の皆様にお願いしております。会員、維持会員の皆様の積極的な御参加をお願い致します。
日 時: 2011年11月18日(金)10:45〜18:00  (受付開始 10:20)
場 所: 東京工業大学 すずかけ台キャンパス すずかけホール (H2 多目的ホール)
(〒226-8503 神奈川県横浜市緑区長津田町 4259)
会場へのアクセス:
東急田園都市線 すずかけ台駅下車 徒歩約5分
http://www.titech.ac.jp/about/campus/s.html
 
参加費: 会員:3000円、非会員:5000円、学生:1500円
◆参加費には講演資料(日本画像学会誌189号)を含みます。
1コイン情報交換会:500円
参加ご希望の方は、本文に氏名・所属,会員(会員No.)/非会員/学生(会員の場合は会員No.)の別を記入し、日本画像学会事務局(event@isj-imaging.org)までメールでお申し込み下さい。(講演会、情報交換会) 当日申し込みも可能です。
なお、参加費は当日、会場で集めます。その際、会員は会員証を、学生は学生証をご提示ください。

プログラム
「材料分析技術」
(日本画像学会誌193掲載)  


10:45〜10:55 開会の挨拶
日本画像学会 編集委員長   竹内 達夫
10:55〜11:35  ●印刷に関連する分析技術
株式会社 東レリサーチセンター  日下田 成
11:35〜12:15  ●走査型プローブ顕微鏡の基礎と応用
日本電子株式会社  中本 圭一
12:15〜13:15 − 昼 食 −
   
13:15〜13:55  ●分光エリプソメトリー:基礎から応用まで
有限会社 テクノ・シナジー   田所 利康
13:55〜14:35  ●質量分析 MALDI-TOF-MS による材料評価
ブルカー・ダルトニクス 株式会社   工藤 寿治
14:35〜14:50 − 休 憩 −
   
14:50〜15:30  ●表面分析 −XPS:X線光電子分光−
株式会社 島津製作所   吉田 能英
15:30〜16:10  ●示差走査熱量計(DSC)の原理と応用
エスアイアイ・ナノテクノロジー 株式会社   岩佐 真行
16:10〜16:50  ●飛行時間型二次イオン質量分析法の技術動向
アルバック・ファイ 株式会社   星  孝弘
16:50〜17:00 閉会の挨拶
日本画像学会 編集委員会
17:00〜18:00 1コイン情報交換会
      講演順に関しましては今後都合により変更の可能性がありますので最新の情報をご確認ください。

★ 本企画担当編集委員:山口(ユーテック)、中山(富士ゼロックス)、竹内(キヤノン)、堤(京セラミタ)
★ フリートーキング担当編集委員:永戸(東芝)、鈴木(元リコー)、中山(富士ゼロックス)、北久保(日本工大)
★ 問い合わせ:一般社団法人 日本画像学会、TEL 03-3373-9576、E-mail event@isj-imaging.org

日本画像学会(top)]  >>  [Imaging Today]  >>  第20回フリートーキング