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2022年度 第4回 日本画像学会技術研究会(通算第155回)

電子写真技術研究会
『電子写真解析を深化させた最新可視化・計測技術 〜 ぐるっとプロセスひと巡り 〜』

  今年度の研究会は、「 電子写真解析を深化させた最新可視化・計測技術 〜 ぐるっとプロセスひと巡り 〜 」と題しまして、 電子写真プロセスを一巡する各サブプロセスでの可視化・計測技術の応用事例を紹介頂きます。 不可視な状態を観察・計測し、理解できるようにする可視化技術は、電子写真技術の各サブプロセス解析において威力を発揮し、 その技術の発展に貢献してきたと言えるでしょう。 本研究会では、実際に電子写真プロセス解析の成果につながった可視化技術について情報を共有し、更にディスカッション の場を設け、皆で議論することによりその詳細を深堀りして行きます。皆様方の今後の開発業務において、可視化技術の応用 がもたらす成果や、解析技術の進歩につながるヒントが得られる事を期待しています。本研究会の情報が、皆様のお役に立て れば幸いです。皆様ふるってご参加下さい。



■ 開催日時:2023年1月27日(金)9:30 〜16:45 (サイト入場開始時間 9:15)
■ 会場:Zoomによるonline開催
■ 対象:イメージング関連事業で電子写真にかかわる技術者の方、電子写真技術に精通した関連事業に従事する方
■ 参加費: 会員・維持会員・協賛学会 7,000円、非会員 10,000円(定価)、学生 2,000円
*参加費は事前振り込みとさせていただきます。
資料は、事前にネット配信いたします。
*会員:日本画像学会,協賛学会(日本印刷学会,日本写真学会,画像電子学会)
■参加申込:下記の日本画像学会技術研究会の参加申し込みサイトから事前に申し込みをお願致します。
*スマートフォンなどで登録される際は次のQRコードからご登録ください。
https://questant.jp/q/R93ZU6PW-155th-TEC
   
■ 申し込み締め切り日:2022年1月19日
プログラム
  時間題目 講演者所属
 1 9:30-9:35開会の挨拶   
 1 9:35-10:20微小パターン電極による微弱放電の計測および解析方法 大塚 幸治 キヤノン
 2 10:25-11:10電子写真感光体の潜像解析 宮本 栄一 京セラドキュメントソリューションズ
 2 11:15-12:00現像プロセスにおけるハーフトーン後端濃度低下ディフェクトの可視化解析 横山 優樹 富士フイルムビジネスイノベーション
12:00-13:00昼食休憩 
 4 13:00-13:45転写プロセスの可視化技術 飯村 治雄 /TD>リコー
 5 13:50 -14:35光弾性法によるクリーニングブレードの内部応力の可視化 およびその適応事例 中根 良樹 コニカミノルタ
 6 14:50-15:25トナー高速溶融特性および粘着特性の計測 河野 将希 キヤノン
 6 14:50-15:25高速動画事例紹介 内野 真喜 フォトロン
 7 16:05-16:45パネルディスカッション:可視化技術への期待と未来
(ファシリテータ:コニカミノルタ 服部好弘)
   ン
<プログラム等の変更に備え、最新の情報をご確認ください>





■登録申請の詳細:   ・申し込み締め切り日: 2023年1月19日
 参加登録返信メールに請求書を添付しております。
   請求書に記載の振込日までに事前振り込みをお願いします。
   別の支払方法をご希望の場合はWeb参加登録後、学会事務局にお問合せ下さい。
   また振り込み方法ならびに振込期日についてのお問い合わせも学会事務局にお問い合わせください。
・振込最終締め切り:1月21日
・参加費を振り込まれた方に参加URLとテキストpdfを送付します。
*1月21日までに参加費の振り込みがないか、振込をされた方の確認が出来ない場合、参加のためのURLなどのご連絡が出来なくなりますのでご注意ください。
■主催:一般社団法人 日本画像学会
〒164-8678 東京都中野区本町2-9-5 東京工芸大学内
Tel:03-3373-9576, Fax:03-3372-4414
http//www.isj-imagingorg/isj.html
■協賛:日本印刷学会、画像電子学会、日本写真学会
■企画運営:日本画像学会 技術委員会 電子写真技術部会

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